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  • Automated Technology for Verification and Analysis: Third International Symposium, Atva 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005, Proceedings (Paperback, 2005)
  • Doron A. Peled, Yih-kuen Tsay (엮은이)
  • Springer-Verlag New York Inc | 2005년 09월
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