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- Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development (Hardcover, 1998) - A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
- Taeho Kim, Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien
- Kluwer Academic Pub | 1998년 01월 | 1998년 01월
- 233,680원 (18% 할인 / 11,690원)
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