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  • 2015 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optoelectronic Measurement Technology and Systems 2015 (Proceedings of SPIE) (Paperback)
  • Hai Xiao, Sen Han, Kexin Xu, Hwa-Yaw Tam, Jigui Zhu (엮은이)
  • SPIE Press | 2015년 09월
  • 128,220원 (18% 할인 / 6,420원)
  • 택배로 주문하면 11월 21일 출고 변경
  • Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications III (Paperback)
  • Toru Yoshizawa, Sen Han, Song Zhang (엮은이)
  • SPIE Press | 2015년 02월
  • 185,210원 (18% 할인 / 9,270원)
  • 택배로 주문하면 11월 21일 출고 변경
  • Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V (Paperback)
  • Toru Yoshizawa, Sen Han, Song Zhang (엮은이)
  • SPIE Press | 2018년 12월
  • 185,210원 (18% 할인 / 9,270원)
  • 택배로 주문하면 11월 21일 출고 변경
  • Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV (Paperback)
  • Toru Yoshizawa, Sen Han, Song Zhang (엮은이)
  • SPIE | 2017년 01월
  • 185,210원 (18% 할인 / 9,270원)
  • 택배로 주문하면 11월 21일 출고 변경

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