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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach (Paperback)
Pradeep Lall, Edward B. Hakim, G. Michael
CRC Press | 2019년 06월 | 2019년 06월
72,950원 (18% 할인 / 3,650원)
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Mechanical Design of Electronic Systems (Paperback)
Pradeep Lall, James W. Dally, Jeffrey C. Suhling
College House Enterprises, LLC | 2017년 01월 | 2017년 01월
170,100원 (10% 할인 / 5,110원)
택배로 주문하면 8월 16일 출고 변경

Prognostics and Health Management: A Practical Approach to Improving System Reliability Using Condition-Based Data (Hardcover)
Pradeep Lall, Ferenc Szidarovszky, Douglas Goodman, James P. Hofmeister
John Wiley and Sons Ltd | 2019년 06월 | 2019년 06월
209,430원 (18% 할인 / 10,480원)
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Hardcover)
Pradeep Lall, Edward B. Hakim , Michael G. Pecht (엮은이)
CRC Pr I Llc | 1997년 04월 | 1997년 04월
209,810원 (18% 할인 / 10,500원)
택배로 주문하면 8월 27일 출고 변경

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