Paul S. Ho의 신간 소식을 구독하세요.

표지 보기 표지 안보기

보관함에 상품담기

로그인이 필요한 기능입니다.
로그인 후 다시 시도해주세요
로그인

장바구니에 상품담기

품절도서센터
장바구니 가기

[eBook Code] Advanced Interconnects for ULSI Technology (eBook Code, 1st)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Wiley | 2012년 02월 | 2012년 02월
275,460원 (20% 할인)
택배로 주문하면 11월 14일 출고 변경

Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225 (Paperback)
James R. Lloyd, Paul S. Ho, Frederick G. Yost
Cambridge Univ Pr | 2014년 06월 | 2014년 06월
55,120원 (10% 할인 / 1,660원)
택배로 주문하면 11월 22일 출고 변경

Advanced Interconnects for Ulsi Technology (CD-ROM, 2nd)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho (엮은이)
John Wiley & Sons Inc | 2012년 02월 | 2012년 02월
314,260원 (18% 할인 / 15,720원)
택배로 주문하면 11월 20일 출고 변경

Advanced Interconnects for ULSI Technology (Hardcover)
Paul S. Ho, Mikhail R. Baklanov (엮은이)
John Wiley & Sons Inc | 2012년 04월 | 2012년 04월
352,930원 (18% 할인 / 17,650원)
택배로 주문하면 11월 20일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: 11th International Workshop (Hardcover, 2010)
Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Amer Inst of Physics | 2010년 12월 | 2010년 12월
213,810원 (18% 할인 / 10,700원)
택배로 주문하면 11월 22일 출고 변경

Low Dielectric Constant Materials for Ic Applications (Hardcover)
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee
Springer Verlag | 2002년 11월 | 2002년 11월
232,140원 (18% 할인 / 11,610원)
택배로 주문하면 12월 2일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Third International Workshop: Palo Alto, CA, June 1995 (Hardcover)
Paul S. Ho, Che-Yu Li, John Bravman
Amer Inst of Physics | 1998년 04월 | 1998년 04월
200,900원 (18% 할인 / 10,050원)
택배로 주문하면 11월 22일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Avs Series 13 (Hardcover) - First International Workshop, Ithaca, Ny, 1991
Paul S. Ho, Paul Totta, Che-Yu Li (엮은이)
Amer Inst of Physics | 1998년 03월 | 1998년 03월
136,320원 (18% 할인 / 6,820원)
택배로 주문하면 11월 22일 출고 변경

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 (Paperback)
Harold J. Frost, Paul S. Ho, William F. Filter, Kenneth P. Rodbell
Cambridge Univ Pr | 2014년 06월 | 2014년 06월
44,500원 (18% 할인 / 2,230원)
택배로 주문하면 12월 2일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Ninth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization (Hardcover)
Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Amer Inst of Physics | 2007년 11월 | 2007년 11월
142,060원 (18% 할인 / 7,110원)
택배로 주문하면 11월 22일 출고 변경

Low Dielectric Constant Materials for IC Applications (Paperback, Softcover Repri)
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee (엮은이)
Springer Verlag | 2012년 10월 | 2012년 10월
232,140원 (18% 할인 / 11,610원)
택배로 주문하면 12월 2일 출고 변경

Electronic Packaging Materials Science VI: Volume 264 (Hardcover)
Paul S. Ho, Che-Yu Li, Kenneth A. Jackson (엮은이)
Materials Research Society | 1992년 11월 | 1992년 11월
38,930원 (18% 할인 / 1,950원)
택배로 주문하면 11월 19일 출고 변경

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Tenth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization (Hardcover)
Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Amer Inst of Physics | 2009년 06월 | 2009년 06월
173,630원 (18% 할인 / 8,690원)
택배로 주문하면 11월 22일 출고 변경

[eBook Code] Advanced Interconnects for ULSI Technology (eBook Code, 1st)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Wiley | 2012년 02월 | 2012년 02월
275,460원 (20% 할인)
택배로 주문하면 11월 14일 출고 변경

[eBook Code] Advanced Interconnects for ULSI Technology (eBook Code, 1st)
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech (엮은이)
Wiley | 2012년 02월 | 2012년 02월
275,460원 (20% 할인)
택배로 주문하면 11월 14일 출고 변경

검색결과에 만족하시나요?

네, 만족해요 아니오, 만족하지 않아요.

로그인전체 메뉴회사 소개출판사 안내PC 버전

(주)알라딘커뮤니케이션

일반문의 (발신자 부담) 1544-2514

중고매장 위치, 영업시간 안내