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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies (Hardcover)
Manoj Sachdev, Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei
Springer Verlag | 2008년 05월 | 2008년 05월
279,650원 (18% 할인 / 13,990원)
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test (Paperback)
Manoj Sachdev, Andrei Pavlov
Springer Verlag | 2010년 10월 | 2010년 10월
263,200원 (18% 할인 / 13,160원)
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Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced Cmos Technologies (Paperback)
Manoj Sachdev, Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei
Springer Verlag | 2010년 10월 | 2010년 10월
279,650원 (18% 할인 / 13,990원)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Paperback, 2)
Manoj Sachdev, Jose Pineda De Gyvez
Springer | 2010년 11월 | 2010년 11월
307,480원 (18% 할인 / 15,380원)
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits (Hardcover)
Manoj Sachdev, Arman Vassighi
Springer-Verlag New York Inc | 2006년 01월 | 2006년 01월
153,730원 (18% 할인 / 7,690원)
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Paperback)
Manoj Sachdev, Arman Vassighi
Springer | 2010년 11월 | 2010년 11월
153,730원 (18% 할인 / 7,690원)
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test (Hardcover, 2008)
Manoj Sachdev, Andrei Pavlov
Springer Verlag | 2008년 06월 | 2008년 06월
263,200원 (18% 할인 / 13,160원)
택배로 주문하면 11월 14일 출고 변경

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Hardcover, 2)
Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
Springer Verlag | 2007년 06월 | 2007년 06월
307,480원 (18% 할인 / 15,380원)
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