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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Paperback, 2)
Manoj Sachdev, Jose Pineda De Gyvez
Springer | 2010년 11월 | 2010년 11월
307,480원 (18% 할인 / 15,380원)
택배로 주문하면 11월 14일 출고 변경

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (Hardcover, 1993)
Jose Pineda de Gyvez, Jose Pineda De Gyvez
Kluwer Academic Pub | 1992년 12월 | 1992년 12월
153,730원 (18% 할인 / 7,690원)
택배로 주문하면 11월 14일 출고 변경

Integrated Circuit Manufacturability: The Art of Process and Design Integration (Hardcover) - The Art of Process and Design Integration
Jose Pineda De Gyvez , Jose Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan (엮은이)
IEEE | 1998년 10월 | 1998년 10월
379,010원 (18% 할인 / 18,960원)
택배로 주문하면 11월 7일 출고 변경

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