뒤로가기
검색
비코드검색
로그인
회원가입
나의 계정
주문조회
보관함
0
알림
추천마법사
베스트셀러
새로나온책
분야별 보기
굿즈총집합
이벤트
중고매장
매입가 조회
알라딘에 팔기
회원에게 팔기
국내도서
전자책
외국도서
온라인중고
우주점
커피
음반
블루레이
알라딘 굿즈
자동슬라이드 멈춤
북펀드
단한권 인쇄소
고객센터
알라디너TV
알라딘 서재
북플
소셜 속 알라딘
신간 소식과 다양한 이벤트 정보를 받아볼 수 있어요
뒤로가기
홈으로
검색
장바구니
메뉴 전체보기
Casar, Markus
의 신간 소식을 구독하세요.
신청
통합
(1)
국내서
(0)
외서
(1)
eBook
(0)
중고온라인
(0)
알라딘굿즈
(0)
중고매장
(...)
커피
(0)
음반
(0)
블루레이
(0)
닫기
통합
(1)
국내서
(0)
외서
(1)
eBook
(0)
온라인중고
(0)
알라딘굿즈
(0)
중고매장
(...)
커피
(0)
음반
(0)
블루레이
(0)
ㆍㆍㆍ
정확도순
판매량순
출시일순
상품명순
평점순
리뷰순
저가격순
표지 보기
표지 안보기
옵션
목차검색
검색
부가옵션
해외직수입 상품 제외
출간일
전체
3개월 이하
12개월 이하
24개월 이하
36개월 이하
60개월 이하
리뷰수
전체
5개 이상
10개 이상
50개 이상
100개 이상
별점
전체
2개 이상
3개 이상
4개 이상
5개
재고상태
전체
미출간/품절/절판 제외
판매가
전체
1만원 이하
2만원 이하
3만원 이하
초기화
적용
보관함에 상품담기
닫기
로그인이 필요한 기능입니다.
로그인 후 다시 시도해주세요
로그인
장바구니에 상품담기
닫기
닫기
품절도서센터
장바구니 가기
Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors. (Paperback)
- Hrsg.: Fraunhofer IAF, Freiburg. Dissertationsschrift
Casar, Markus
,
Oliver Ambacher
(엮은이)
Fraunhofer Verlag
|
1900년 01월
|
1900년 01월
98,490
원 (10% 할인 / 990원)
택배
로 주문하면
2월 20일 출고
변경
장바구니
바로구매
보관함
실종도서센터 접수시작
닫기
온라인 중고
더보기
검색결과에 만족하시나요?
네, 만족해요
아니오, 만족하지 않아요.
의견보내기
검색결과에 만족하시나요?
소중한 의견 감사합니다.
검색결과의 개선을 위해 노력하겠습니다.
뒤로가기
위로가기
