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Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors. (Paperback)
- Hrsg.: Fraunhofer IAF, Freiburg. Dissertationsschrift
Casar, Markus
,
Oliver Ambacher
(엮은이)
Fraunhofer Verlag
|
1900년 01월
|
1900년 01월
97,840
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