Aland K. Chin의 신간 소식을 구독하세요.

표지 보기 표지 안보기

보관함에 상품담기

로그인이 필요한 기능입니다.
로그인 후 다시 시도해주세요
로그인

장바구니에 상품담기

품절도서센터
장바구니 가기

Testing Reliability and Application (Paperback) - 24-26 January, 2001, San Jose, California USA
Aland K. Chin (엮은이)
Society of Photo Optical | 2001년 05월 | 2001년 05월
149,590원 (18% 할인 / 7,480원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

Test and Measurement Applications of Optoelectronic Devices (Paperback)
Niloy K. Dutta, Aland K. Chin (엮은이)
Society of Photo Optical | 2002년 04월 | 2002년 04월
149,590원 (18% 할인 / 7,480원)
택배로 주문하면 11월 25일 출고 변경

검색결과에 만족하시나요?

네, 만족해요 아니오, 만족하지 않아요.

로그인전체 메뉴회사 소개출판사 안내PC 버전

(주)알라딘커뮤니케이션

일반문의 (발신자 부담) 1544-2514

중고매장 위치, 영업시간 안내